Aby zrozumieć szkło AG, musimy najpierw zrozumieć parametry szkła. Połysk jest jednym z ważnych parametrów. Tzw. Połysk wskazuje, w jakim stopniu powierzchnia obiektu znajduje się blisko powierzchni lustra. Im wyższy połysk, tym bliżej powierzchni lustra znajduje się powierzchnia szkła. Głównym celem szkła AG jest zapobieganie olśnieniu, a główną zasadą wytwarzania przeciwodblaskowych jest odbicie rozproszone. Głównym wskaźnikiem do pomiaru odbicia rozproszonego jest połysk.
1. Jaki jest pożytek z pomiaru połysku?
Połysk jest aspektem percepcji wizualnej, który definiuje się jako „właściwości powierzchniowe”, które nadają szkle AG błyszczący, teksturowany wygląd. Połysk wytrawionej powierzchni szkła AG jest związany z wieloma czynnikami, takimi jak długość czasu trawienia, właściwości materiału i tak dalej.
Połysk jest ważnym wskaźnikiem wytrawionej kontroli szkła AG. Zakres połysku szkła Hengyi AG można regulować w przedziale od 15 do 135, zwykle między 15 a 45 GU to zakres tablicy białej tablicy, między 50 a 90 GU to połysk konwencjonalnych produktów elektronicznych, ponad 90 GU to połysk szkło samochodowe.
Po drugie, jak zmierzyć połysk?
Aby zmierzyć połysk, zazwyczaj używamy miernika połysku. Miernik połysku ma stół domowy i miernik importowany. Dlatego parametry pomiarowe różnych marek są niedokładne. Jeśli obie strony potrzebują parametrów, muszą wyjaśnić to klientowi.
Po trzecie, jak wybrać odpowiedni kąt pomiaru?
Spotkałem klienta, który właśnie skontaktował się ze szkłem AG i przetestował szkło AG pod trzema kątami, aby uzyskać trzy wartości. W rzeczywistości równie ważny jest wybór odpowiedniego kąta detekcji. Ogólnie: 85 ° mierzy się poniżej 10 GU, 60 ° mierzy się dla 10-60 GU, a 20 ° mierzy się dla 60 GU lub więcej.
Średni połysk (kąt uniwersalny): 60 °
60 ° to kąt pomiaru dla wszystkich powierzchni. Jest również używany jako kąt odniesienia dla niskiego połysku 85 °, wysoki połysk pomiaru powierzchni 20 °. Ogólnie, kąt połysku stałego szkła AG mierzy się pod kątem 60 °.
Niski połysk: 85 °
W celu poprawy rozdzielczości powierzchni o niskim połysku. Połysk można zmierzyć przy 85 °. Gdy wartość połysku powierzchni obiektu jest mniejsza niż 10 GU mierzona przy 60 °, zaleca się użycie kąta 85 ° do pomiaru. Podczas pomiaru różnych tekstur połysku lub lekko nierównych powierzchni z 85 °, w celu ich uśrednienia przyjmuje się pomiary wielopunktowe.
Wysoki połysk: 20 °
Kąt pomiaru 20 ° zwiększa rozdzielczość powierzchni o wysokim połysku. Podczas pomiaru wartości połysku powierzchni obiektu powyżej 60 ° przy 60 ° zaleca się stosowanie kąta 20 ° do pomiaru. Kąt 20 ° (ścieżka optyczna) jest bardzo wrażliwy na zjawisko zamglenia na powierzchni obiektu. Ponieważ mgła jest zjawiskiem wyjątkowym dla powierzchni o wysokim połysku.
